賽默飛（原FEI）的Scios 2 DualBeam掃描電鏡是一款高性能的雙束顯微鏡，適用于磁性和非導電材料的三維表征
高分辨率成像：Scios 2 DualBeam采用Thermo Scientific NICol?電子鏡筒，能夠在最佳工作距離下實現(xiàn)STEM 0.8 nm的分辨率，同時支持多種樣品類型的成像需求。
樣品制備與導航：配備Sidewinder HT離子鏡筒，可以快速、簡便地制備高質量的TEM和原子探針樣品。內置的Nav-Cam?相機和靈活的110 mm樣品臺實現(xiàn)精確的樣品導航。
自動化與靈活性：可選ASV4軟件支持自動化采集連續(xù)切片圖像、EDS或EBSD圖像，并實現(xiàn)三維重構。此外，DCFI漂移校正技術和SmartScan模式確保無偽影成像和精確的圖形加工。
探測器系統(tǒng)：設備配備多種探測器，包括二次電子探測器ETD、背散射電子探測器T1、T2和T3（選配），以及IR-CCD紅外相機和高性能離子轉換電子探測器ICE，能夠同步檢測多達四種信號。
應用領域：Scios 2 DualBeam特別適用于需要高通量亞表面和3D表征的應用場景，如半導體分析、材料科學和納米技術研究。
Scios 2 DualBeam是一款功能強大且靈活的掃描電鏡，能夠滿足學術、政府和工業(yè)研究領